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      • 釹鐵硼PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)

        釹鐵硼PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)主要是測(cè)試磁性材料封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • 光分路器PCT試驗(yàn)機(jī),試驗(yàn)箱

        光分路器PCT試驗(yàn)機(jī),試驗(yàn)箱測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • 高壓滅菌鍋

        高壓滅菌鍋也叫非飽和高壓加速老化箱,應(yīng)用于電子電器、線路板、化工能源、太陽(yáng)能、磁性材料等。 HAST試驗(yàn)箱圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品,可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過(guò)熱直接沖擊操作人員。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • 高溫蒸煮儀

        高溫蒸煮儀也叫高壓加速老化箱,應(yīng)用于電子電器、線路板、化工能源、太陽(yáng)能、磁性材料等。 HAST試驗(yàn)箱圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品,可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過(guò)熱直接沖擊操作人員。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • 高溫高濕高壓試驗(yàn)機(jī)

        高溫高濕高壓試驗(yàn)機(jī)也叫高壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī),應(yīng)用于電子電器、線路板、化工能源、太陽(yáng)能、磁性材料等。HAST試驗(yàn)箱圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品,可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過(guò)熱直接沖擊操作人員。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • PCT高壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)

        PCT高壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

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        更新時(shí)間:2024-06-22
      • 高壓滅菌鍋老化箱

        高壓滅菌鍋老化箱測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試。

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        更新時(shí)間:2024-06-28
      • 高壓高溫蒸煮老化試驗(yàn)箱

        高壓高溫蒸煮老化試驗(yàn)箱測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試。

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        更新時(shí)間:2024-06-28
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