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      pct高溫加速老化試驗(yàn)箱

      • 更新時(shí)間:2024-06-22

      pct高溫加速老化試驗(yàn)箱用途:適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)

      品牌艾思荔/Asli產(chǎn)地進(jìn)口
      加工定制

      艾思荔pct高溫加速老化試驗(yàn)箱測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間

      高溫加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)優(yōu)勢(shì):

      1采用全自動(dòng)補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)不中斷

      2試驗(yàn)過(guò)程的溫度、濕度、壓力,是讀取相關(guān)傳感器的讀值來(lái)顯示的,而不是通過(guò)溫濕度的

      壓表計(jì)算出來(lái)的,能夠掌握實(shí)際的試驗(yàn)過(guò)程。

      3干燥設(shè)計(jì),試驗(yàn)終止采用電熱干燥設(shè)計(jì)確保測(cè)試區(qū)(待測(cè)品)的干燥,確保穩(wěn)定性。

      4、準(zhǔn)確的壓力/溫度對(duì)照顯示,*符合溫濕度壓力對(duì)照表要求。

      <strong><strong><strong><strong>pct高溫加速老化試驗(yàn)箱</strong></strong></strong></strong>

      高溫加速老化試驗(yàn)箱性能:

      1測(cè)試環(huán)境條件42測(cè)試方法環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、

      2溫度范圍105℃→+132℃(控制點(diǎn))

      3溫度波動(dòng)度±05℃

      4溫度偏差±20℃

      5濕度范圍75%~RH(控制點(diǎn))

      6濕度波動(dòng)度±25%RH

      7濕度均勻度±50%

      8壓力范圍05~2㎏/㎝2(005~0196MPa)(控制點(diǎn))

      9升溫時(shí)間常溫→+132℃35min

      10升壓時(shí)間常壓→+2㎏/㎝240min

      高溫加速老化試驗(yàn)箱試樣限制本試驗(yàn)設(shè)備禁止:

          易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。

      <strong><strong><strong><strong>pct高溫加速老化試驗(yàn)箱</strong></strong></strong></strong>

      pct高溫加速老化試驗(yàn)箱用途:壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。

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